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在線式X射線熒光分析儀 XMS
XMS是一款適用于工業自動化的在線式X射線熒光分析儀，具有快速數據采集和分析能力，能夠幫助制造商優化工藝流程和提供產品質量。
手持式X熒光光譜儀
能夠快速而準確的完成元素定性/定量分析，適用于多種環境，包括合金分析、PMI材質分析，礦石成分分析、土壤重金屬檢測、RoHS 2.0檢測，鍍層測厚、化肥和動物飼料成分分析、鋰電池以及廢舊金屬回收等各行.....
布魯克科研級手持式XRF分析儀 TRACER 5g
更高精度、更多元素檢測范圍，可測到氟元素的科研級手持式XRF光譜儀
微區X射線熒光光譜儀M4 TORNADO
微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性的元素分析方法。
TXRF全反射X射線熒光光譜儀S2 PICOFOX
TXRF全反射X射線熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U。
微區X射線熒光成像光譜儀PLUS
M4 TORNADO PLUS 微區X射線熒光成像光譜儀是能夠檢測出C（6）-Am（95）間元素的微區X射線熒光成像光譜儀。
便攜臺式xrf分析儀
便攜式XRF分析儀適用于在實驗室內外檢測固體,粉末和液體.雖然手持式XRF輕便靈活,適合進行現場檢測,但是,當需要對樣品進行預備時;當樣品為粉末,固體和液體等形態,存放在容器中時;當需要較長時間的檢測.....

新品發布 - 布魯克探針式輪廓儀/臺階儀 Dektak Pro
Dektak Pro是布魯克新發布的一款的探針式輪廓儀/臺階儀，基于第十一代Dektak?系統，具有4 ?重復性的優異表現，并提供200毫米平臺選項
布魯克三維光學輪廓儀 ContourX-200
ContourX系列中的高效能白光干涉儀，配備自動XYZ樣品臺、查找表面功能、拼接及大范圍成像功能。
布魯克三維光學輪廓儀 ContourX-1000
布魯克白光干涉儀，適用于研究和生產的自校準、具備全自動解決方案的三維光學輪廓系統
布魯克探針式輪廓儀/臺階儀
能夠實現嚴苛的納米水平表面測量，提供更高的重復性和分辨率，不論是性能、易用性還是價格都更具有競爭力的探針式輪廓儀
布魯克探針式輪廓儀系統 / 臺階儀系統 Dektak XTL
一款可容納高達 350mm x 350mm 的樣品，適用于大規格晶圓和面板制造領域、QC（質量控制）/QA（質量保證）的探針式輪廓儀系統
布魯克原子力顯微鏡/AFM Dimension Icon
原子力顯微鏡Dimension Icon是一款性能卓越、具備智能成像模式 ( Scan Asyst) 和大樣品臺的原子力顯微鏡
光學輪廓儀ContourGT-X
布魯克光學輪廓儀特性：業界標桿，大視場下高的垂直分辨率；從0.5x到200x不同放大倍率實現不同面型和織構表面的表征；硬件的優化設計進一步的儀器抗噪聲能力、系統靈活性和測量穩定性

薄膜應力及基底翹曲測試設備
FSM128系列設備，裝備有光學掃描系統。
薄膜應力及基底翹曲測試設備
FSM 500TC 200mm 高溫應力測試系統可以幫助研發和工藝工程師評估薄膜的熱力學性能和穩定性特性
布魯克 Delta-X 多功能X射線衍射儀/反射儀 XRD
提供科研開發工作所需的各種X射線測試解決方案
布魯克 JV-QC3 高分辨率X射線衍射儀 XRD
JV-QC3 高分辨率X射線衍射儀是布魯克半導體部門新推出的專為化合物半導體產業所設計的半導體生產質量控制設備。
硅片表面形貌測量
硅片表面形貌測量,材料表面形貌分析
晶圓厚度測量系統
FSM413回波探頭傳感器使用紅外（IR）干涉測量技術。

I-V 曲線測試儀
PV200為光伏系統提供了一個測試及診斷解決方案
電荷靈敏前置放大器
CUBE（立方）是一種以脈沖復位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續復位模式運行。
原子力顯微鏡探針/AFM探針
布魯克AFM探針具有多種款式和型號，能夠滿足多種應用領域中的原子力顯微鏡（AFM）解決方案。
檢測服務 - 介紹
承接成分分析、大面積元素分析成像、材料表面形貌分析等檢測服務