布魯克Bruker 科研級手持式XRF分析儀 - Tracer 5g
X射線熒光光譜儀(XRF)是一種通過測量樣品受X射線激發(fā)后產(chǎn)生的特征熒光來快速無損分析元素成分的儀器，廣泛應(yīng)用于材料檢測、環(huán)境監(jiān)測、礦產(chǎn)勘探、工業(yè)質(zhì)量控制及考古研究等領(lǐng)域
使用布魯克BRUKER全反射X射線光譜儀，能夠檢測大米中砷元素的含量
Bruker Q2 ION 光電全譜直讀光譜儀：中小企業(yè)金屬分析專家
布魯克BRUKER 移動式微區(qū)X射線熒光光譜儀CRONO，幫助研究人員揭開19世紀(jì)水彩復(fù)制品的色彩之謎
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